Zameranie výskumu oddelenia optoelektronických meracích metód

RNDr. Miroslav Hain, PhD.
Vedúci oddelenia

Výskum v oddelení optoelektronických meracích metód je zameraný na rozvoj moderných meracích metód s využitím optiky, elektroniky a počítačového spracovania signálov.

Prehľad nosných problematík oddelenia:

  • meracie metódy s využitím röntgenovej počítačovej mikrotomografie,
  • optoelektronické metódy merania odchýlok polohy veľkých objektov od vertikálnej osi s použitím na monitorovanie reaktorov jadrových elektrární,
  • optické metódy nedeštruktívneho testovania kultúrnych artefaktov (infračervená reflektografia, indukovaná ultrafialová fluorescencia, …)