Ústav ÚstavKontakt KontaktMapa stránky Mapa stránkyPrivátna zóna Privátna zónaEnglish version English version
Slovensk� akad�mia vied (SAV)
Hlavná stránka
Kontakt
Organizačná štruktúra
História
- - - - - - -
Infraštruktúra
Pracovníci
Oddelenia
Knižnica
Spoločné pracoviská
- - - - - - -
Projekty
Vybrané výsledky
Publikácie a citácie
Výročné správy
- - - - - - -
Doktorandské štúdium
Pedagogická činnosť
Pracovné príležitosti
Zverejňovanie informácií
Ústav arrow Oddelenia arrow Odd. optoelektronických meracích metód arrow Projekty oddelenia arrow Nedeštruktívna analýza a testovanie muzeálnych objektov
Nedeštruktívna analýza a testovanie muzeálnych objektov

Projekt MVTS COST G8

Odobie riešenia v SAV: 01/2002 - 06/2006

Predseda medzinárodného riadiaceho výboru: Prof. Annemie Adriaens

Vedúci projektu v SAV a člen medzinárodného riad.výboru: RNDr. Miroslav Hain

Dosiahnuté výsledky:

V rámci projektu boli teoreticky a experimentálne rozvíjané nedeštruktívne optické metódy testovania umeleckých diel s následným digitálnym spracovaním obrazu – infračervená reflektografia a ultrafialová fluorescencia. Tieto metódy sú vhodné na zviditeľnenie podkresieb pod vrchnými vrstvami obrazov, skrytých, premaľovaných alebo časom degradovaných textov, signatúr a datovaní, odlíšenie pôvodných a retušovaných častí diela a tiež pri určovaní jeho autentickosti. V roku 2006 – posledný rok riešenia projektu - bol okrem ďalšieho rozvoja uvedených metód kladený dôraz aj na prenos získaných poznatkov do aplikačnej sféry, najmä medzi komunitu reštaurátorov umeleckých diel. Testovacie metódy rozvíjané v ÚM SAV boli úspešne aplikované v spolupráci s Komorou reštaurátorov, Vysokou školou výtvarných umení a Pamiatkovým úradom SR pri testovaní artefaktov nášho kultúrneho dedičstva, napr. oltárnych tabuľových malieb v Levoči, nástenných malieb v múzeu v Banskej Bystrici a ďalších dielach nášho kultúrneho dedičstva.

Aplikácia infračervenej reflektografie - zviditeľnenie podkresby:

cost1 cost2

Aplikácia ultrafialovej fluorescencie - zviditeľnenie časom degradovaného textu:

cost3 cost4
 
Measurement Science Review (on-line časopis)
Konferencie
Semináre
Aktuality
Pracovníci Oddelenia optoelektronických meracích metód