|
Ústav Oddelenia Odd. optoelektronických meracích metód Projekty oddelenia Infračervené metódy merania a nedeštruktívneho testovania - aktívna infračervená termografia, reflektografia a termometria
Infračervené metódy merania a nedeštruktívneho testovania - aktívna infračervená termografia, reflektografia a termometria |
Projekt vedeckej grantovej agentúry VEGA 2/7082/07
Doba riešenia: 01/2007 - 12/2009
Vedúci projektu: RNDr. Miroslav Hain
Ciele projektu
Cieľom navrhovaného projektu je v teoretickej oblasti analýza a návrh nových metód aktívnej infračervenej termografie v pásme (8 - 12 μm) s plánovaným využitím pri meraní a nedeštrutívnom testovaní skrytých podpovrchových defektov a nehomogenít, vytvorenie fyzikálneho modelu testovaného objektu s cieľom optimalizácie metódy aktívnej termografie, riešenie problémov súvisiacich s hraničnými oblasťami použitia infračervenej termometrie a termografie - bezkontaktné meranie teploty a teplotných polí 3D objektov, opticky polopriepustných objektov a objektov s nízkymi a premenlivými koeficientami emisivity. Cieľom projektu je tiež teoreticky rozpracovať experimentálne realizovať metódu podpovrchového testovania s využitím blízkeho infračerveného žiarenia (0,8 - 2 μm) - infračrevenú reflektografiu, ktorá je aplikovateľná v umeleckom reštaurovaní, priemysle a tiež v bezpečnostných aplikáciách, ktoré sú jednou zo súčasných priorít rámcového programu EU. V experimentálnej oblasti je cieľom projektu navrhnúť systém pre aktívnu termografiu s pulzným zdrojom IČ žiarenia s termografickou kamerou (NEC TH7102WX), realizovať elektronické a softwarové zabezpečenie systému pre zber a vyhodnotenie dát a otestovať systém v reálnych aplikáciách. V rámci spoločného laboratória s VŠVU dobudovať infračervený reflektografický systém citlivý v pásme (0,8 - 2 μm) s digitalizáciou a spracovaním obrazu.
Výsledky v r. 2008
- Bola rozpracovaná aktívna infračervená termografia - nedeštruktívna metóda na testovanie a lokalizáciu skrytých podpovrchových nehomogenít
- Na základe povrchového rozloženia teploty je možné vyhodnotiť prítomnosť podpovrchových defektov alebo iných nehomogenít, prejavujúcich sa deformáciami teplotného poľa na povrchu.
- Bolo uskutočnené modelovanie tepelných procesov v komplexných objektoch s nehomogénnou 3D štruktúrou s využitím numerickej metódy konečných prvkov (Finite Element Method).
|
|
Pracovníci Oddelenia optoelektronických meracích metód |
- Bartl, Ján, RNDr. Ing. CSc.
- Šatka, Alexander, prof. Ing., CSc.
- Hain, Miroslav, RNDr. PhD.
- Hrabina, Ľubomír
- Jacko, Vlado, Ing. PhD.
- Jánošíková, Margita
- Karovič Karol, RNDr. DrSc. (emeritus)
- Keppert, Miroslav, RNDr.
- Krušinský, Dušan, Ing.
- Nagyová, Eva
- Ondrejkovič, Peter
- Ondriš, Ľubomír, Ing. CSc.
- Trutz, Marian
|
|