Ústav ÚstavKontakt KontaktMapa stránky Mapa stránkyPrivátna zóna Privátna zónaEnglish version English version
Slovensk� akad�mia vied (SAV)
Hlavná stránka
Kontakt
Organizačná štruktúra
História
- - - - - - -
Infraštruktúra
Pracovníci
Oddelenia
Knižnica
Spoločné pracoviská
- - - - - - -
Projekty
Vybrané výsledky
Publikácie a citácie
Výročné správy
- - - - - - -
Doktorandské štúdium
Pedagogická činnosť
Pracovné príležitosti
Zverejňovanie informácií
Ústav arrow Oddelenia arrow Odd. optoelektronických meracích metód arrow Projekty oddelenia arrow Infračervené metódy merania a nedeštruktívneho testovania - aktívna infračervená termografia, reflektografia a termometria
Infračervené metódy merania a nedeštruktívneho testovania - aktívna infračervená termografia, reflektografia a termometria

Projekt vedeckej grantovej agentúry VEGA 2/7082/07

Doba riešenia: 01/2007 - 12/2009

Vedúci projektu: RNDr. Miroslav Hain

Ciele projektu

Cieľom navrhovaného projektu je v teoretickej oblasti analýza a návrh nových metód aktívnej infračervenej termografie v pásme (8 - 12 μm) s plánovaným využitím pri meraní a nedeštrutívnom testovaní skrytých podpovrchových defektov a nehomogenít, vytvorenie fyzikálneho modelu testovaného objektu s cieľom optimalizácie metódy aktívnej termografie, riešenie problémov súvisiacich s hraničnými oblasťami použitia infračervenej termometrie a termografie - bezkontaktné meranie teploty a teplotných polí 3D objektov, opticky polopriepustných objektov a objektov s nízkymi a premenlivými koeficientami emisivity. Cieľom projektu je tiež teoreticky rozpracovať experimentálne realizovať metódu podpovrchového testovania s využitím blízkeho infračerveného žiarenia (0,8 - 2 μm) - infračrevenú reflektografiu, ktorá je aplikovateľná v umeleckom reštaurovaní, priemysle a tiež v bezpečnostných aplikáciách, ktoré sú jednou zo súčasných priorít rámcového programu EU. V experimentálnej oblasti je cieľom projektu navrhnúť systém pre aktívnu termografiu s pulzným zdrojom IČ žiarenia s termografickou kamerou (NEC TH7102WX), realizovať elektronické a softwarové zabezpečenie systému pre zber a vyhodnotenie dát a otestovať systém v reálnych aplikáciách. V rámci spoločného laboratória s VŠVU dobudovať infračervený reflektografický systém citlivý v pásme (0,8 - 2 μm) s digitalizáciou a spracovaním obrazu.

 

Výsledky v r. 2008

  • Bola  rozpracovaná aktívna infračervená termografia - nedeštruktívna metóda na testovanie a lokalizáciu skrytých podpovrchových  nehomogenít
  • Na základe povrchového rozloženia teploty je možné vyhodnotiť prítomnosť podpovrchových defektov alebo iných nehomogenít, prejavujúcich sa deformáciami teplotného poľa na povrchu.
  • Bolo uskutočnené modelovanie tepelných procesov v komplexných objektoch s nehomogénnou 3D štruktúrou s využitím numerickej metódy konečných prvkov (Finite Element  Method).
 
Measurement Science Review (on-line časopis)
Konferencie
Semináre
Aktuality
Pracovníci Oddelenia optoelektronických meracích metód